艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)整合了2D 幾何計(jì)算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學(xué)檢測(cè)功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測(cè)試,是一套可針對(duì)使用者全方位客制化的光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)。具有高產(chǎn)能及低破片率的優(yōu)點(diǎn),非常適合用于進(jìn)料端,芯片可依使用者定義自動(dòng)分類到堆迭盒或卡式盒內(nèi),獨(dú)特的自動(dòng)轉(zhuǎn)換技術(shù)可以大量節(jié)省人工轉(zhuǎn)換所需的系統(tǒng)待轉(zhuǎn)時(shí)間,并應(yīng)用高科技化的技術(shù),確保光伏芯片輸送系統(tǒng)中重要關(guān)鍵之一的低破片率。以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用,如有疑問或者需要相關(guān)資料,請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司yuncawu.com,可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品特性:
適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率
2D 幾何計(jì)算檢測(cè)
芯片表面瑕疵檢測(cè)
微裂隙檢測(cè)
鋸痕檢測(cè)
Resistively/Thickness 測(cè)試
壽命測(cè)試
簡(jiǎn)易的疑難排解程序
進(jìn)料 : 堆迭盒 / 卡式盒
分類 : 堆迭盒 / 卡式盒